膜厚儀，又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為電渦流鍍層測(cè)厚儀、磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀、熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。 特點(diǎn)：
1、能夠測(cè)量無(wú)鉛焊錫；
2、搭載中心搜索軟件；
3、擁有防沖功能；
4、搭載激光對(duì)焦系統(tǒng)；
5、搭載測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成軟件；
6、擁有自動(dòng)測(cè)量軟件以及中心搜索軟件；
7、配備了薄膜FP法，可以同時(shí)測(cè)量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無(wú)鉛焊錫的鍍層后與成份；
8、通過(guò)掃描樣品可以自動(dòng)檢測(cè)出線及基板點(diǎn)面部分的測(cè)量中心位置。
此外我公司銷售的產(chǎn)品還有測(cè)速儀，色差儀等等，歡迎咨詢！產(chǎn)品的優(yōu)異性能、服務(wù)的善美是我們永無(wú)止境的追求，請(qǐng)老新客戶放心選購(gòu)自己心儀產(chǎn)品。 